安檢設(shè)備測(cè)試箱AB

廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十幾年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-04。

產(chǎn)品適用范圍：用于微劑量X射線檢查設(shè)備測(cè)試體的*次校準(zhǔn)、后續(xù)校準(zhǔn)及使用中檢驗(yàn)。

目測(cè)顯示器中測(cè)試體A的X射線圖像，判斷安檢設(shè)備能分辨的圓形鉛塊所對(duì)應(yīng)鋼階梯的*大數(shù)字值即為安檢設(shè)備能穿透的鋼板的厚度值。如果可以看到被鋼板遮擋的圓形鉛塊的絕大部分，則可認(rèn)為安檢設(shè)備能穿透此鋼階梯。

測(cè)試體B放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線方向，并盡量靠近放射源或者球管，同時(shí)允許采用圖像處理工具以得到*佳測(cè)試體的圖像（這點(diǎn)對(duì)以下各個(gè)性能指標(biāo)測(cè)試皆適用），目測(cè)X射線圖像。

測(cè)試體構(gòu)成：

 測(cè)試體A的構(gòu)成

測(cè)試體A包括4種測(cè)試卡：線分辨力測(cè)試卡（TEST1）、穿透分辨力測(cè)試卡（TEST2）、空間分辨力測(cè)試卡（TEST3）和穿透力測(cè)試卡（TEST4）。

測(cè)試體B的構(gòu)成

測(cè)試體B包括6個(gè)測(cè)試卡：薄物分辨測(cè)試卡（TEST5）、物分辨測(cè)試卡（TEST6）、灰度分辨測(cè)試卡（TEST7）、無機(jī)物分辨測(cè)試卡（TEST8）、材料分辨測(cè)試卡（TEST9）和有效材料分辨測(cè)試卡（TEST10）。

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